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如何通过SCPI命令查询Keysight双向直流电源数据记录内存的采样率?

2026-06-03 10:24:16  点击:

  Keysight N6705B/C/ N678xA 双向源 DLOG 数据记录内存 采样率 SCPI 查询指令

  DLOG 采样率单位:Hz(每秒采样点数);指令FREQ返回采样频率,采样间隔 = 1/FREQ(s),量程:20μs~60s / 点 → 对应采样率 0.01667Hz ~ 50kHz。

  一、单通道 DLOG 当前采样率查询(核心指令)

  scpi

  :INST:NSEL//CH=1~4.选中目标通道

  :SOUR:DLOG:FREQ? //查询当前数据记录采样率(Hz)

  返回示例:1000 = 1kHz 采样,间隔 1ms;50000=50kHz(最小间隔 20μs)。

  设置采样率::SOUR:DLOG:FREQ <数值>

  二、区分 SOUR / 双向 SINK 独立采样率(源 / 吸收模式分开配置)

  scpi

  :SOUR:DLOG:FREQ:SOUR? //放电源侧DLOG采样率

  :SOUR:DLOG:FREQ:SINK? //充电吸收侧DLOG采样率

  三、配套查询:内存容量、已存点数、采样剩余空间(判断采样持续时长)

  scpi

  :SOUR:DLOG:POIN? //当前DLOG已存储采样点数

  :SOUR:DLOG:POIN:MAX? //该通道DLOG内存最大可存总点数

  可计算最长记录时长:T = 总点数 / 采样率

  四、触发模式下有效采样率核查(触发采集≠定时匀速采样)

  scpi

  :SOUR:DLOG:TRIG:SOUR? //触发源:IMM(定时匀速)/VOUT/IOUT/EXT

  返回IMM:按:DLOG:FREQ匀速采样;

  返回 VOUT/IOUT/EXT:仅触发瞬间采样,FREQ 为基准采样时钟,实际有效采样点由触发频次决定。

  五、联动 EEPROM 保护状态查询(保护锁死能否修改采样率)

  scpi

  :SYST:EEPROM:WPIN?;CAL:SEC:STAT?;SYST:SEC:STAT?

  WPIN=1 / 任一 SEC=1:DLOG 采样率配置存入用户 EEPROM,保护开启后只能查询、无法改写 FREQ;

  保护全 0:采样率可远程修改 + 保存。

  六、一键批量查询:采样率 + 点数 + 保护状态(单条指令)

  scpi

  :INST:NSEL 1;:SOUR:DLOG:FREQ?;POIN?;POIN:MAX?;DLOG:TRIG:SOUR?;:SYST:EEP:WPIN?;CAL:SEC?;SYST:SEC?

  返回顺序:采样率、已存点数、最大点数、触发源、硬件 EEP 锁、校准锁、用户锁。

  七、读取历史 DLOG 文件内置采样率(已存入内存 / EEPROM 的历史记录)

  scpi

  :SOUR:DLOG:DATA:HEAD? //读取DLOG文件头,内含:采样率、起始时间、通道号

  文件头字段包含本条历史记录原始配置采样率,用于核对历史数据采样规格。