KEYENCE 基恩士 分光干涉位移型多层膜厚测量仪 SI-T 系列

针对测量场景量身定制的阵容

实现广范围测量

在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。

借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。