KEYENCE 基恩士 分光干涉式晶片厚度计 SI-F80R 系列

产品简述：采用近红外 SLD，即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异，也可实现准确的生产线上测量。