在信号发生器的EMC测试中，辐射发射测试和传导发射测试通常是最耗时的项目，尤其是辐射发射测试。以下是具体分析：
一、辐射发射测试：耗时核心原因
- 频段覆盖广
- 需扫描从低频（如30MHz）到高频（如GHz级）的宽频段，每个频点需稳定驻留以捕捉辐射信号。
- 示例：测试GSM手机的谐波时，需覆盖900MHz、1800MHz、2700MHz等频点，每个频点需多次采样以确保数据准确性。
- 环境干扰敏感
- 需在电波暗室或开阔场地进行，环境噪声（如无线电信号、电源噪声）可能干扰测试结果，需多次重复扫描以排除干扰。
- 解决方案：提前记录环境噪声基线，测试中自动扣除背景干扰，但仍需人工验证数据有效性。
- 设备稳定性要求高
- 信号发生器需长时间稳定输出，避免频率漂移或功率波动导致测试失败。
- 示例：高精度测试中，信号发生器需预热30分钟以上，且测试过程中需持续监控输出参数。
- 天线调整耗时
- 辐射测试需使用多根天线（如双锥天线、对数周期天线）覆盖不同频段，每次更换天线需重新校准位置和角度。
- 优化方法：使用可调支架和自动化转台，减少人工调整时间。
二、传导发射测试：耗时关键因素
- 长电缆与复杂连接
- 设备若通过长电缆连接电源或信号线，需使用LISN（线路阻抗稳定网络）或RF电流钳进行测量，连接和校准过程繁琐。
- 示例：测试工业设备时，电源线长度可能超过3米，需额外衰减器补偿损耗，增加设置时间。
- 多端口测试需求
- 信号发生器若支持多端口输出（如I/Q调制、多频段），需分别测试每个端口的传导发射，重复性操作耗时。
- 优化方法：使用多路功率分配器，并行测试多个端口。
- 低频段扫描范围广
- 传导发射测试频率范围虽比辐射测试短（如高达30MHz），但低频段（如kHz级）需更高分辨率扫描，以捕捉谐波和噪声。
- 示例：测试开关电源时，需在1kHz至30MHz范围内以1kHz步进扫描，单次测试可能耗时数小时。
三、其他耗时因素：抗扰度测试与整改
- 抗扰度测试的重复性
- 静电放电（ESD）、电快速瞬变（EFT）等抗扰度测试需多次施加干扰信号（如不同电压等级、脉冲频率），并观察设备响应。
- 示例：ESD测试需在2kV至15kV范围内逐步增加电压，每次测试后需检查设备功能，耗时较长。
- 测试失败后的整改
- 若设备未通过测试，需定位干扰源（如PCB走线、屏蔽缺陷）并整改，重新测试周期可能延长数天至数周。
- 优化方法：
- 预测试：使用低分辨率扫描快速定位超标频段，减少正式测试时间。
- 自动化脚本：控制信号发生器按预设列表自动切换频率和功率，减少手动设置时间。
- 并行测试：对多台设备或多个端口同时测试，提高资源利用率。
四、案例：汽车电子EMC测试优化
- 优化前流程：
手动设置信号发生器频率→等待稳定→采集数据→记录结果→重复下一频点。
耗时：2小时/DUT（测试100个频点，每个频点1分钟）。 - 优化后流程：
- 预测试：用低分辨率扫描快速定位超标频段（如20个关键频点）。
- 自动化测试：
- 脚本控制信号发生器按预设列表切换频率（0.5秒/频点）。
- 频谱分析仪自动触发采集，转台同步旋转至下一角度。
- 并行测试：同时测试3个DUT（使用功率分配器）。
耗时：25分钟/DUT（效率提升78%）。
