使用网络分析仪测量双向直流电源阻抗与温度关系的步骤如下:
一、测试原理
双向直流电源的阻抗特性(如输入/输出阻抗)受温度影响显著,主要源于:
- 半导体器件参数漂移:MOSFET的导通电阻(RDS(on))、二极管结电容(Cj)随温度变化。
- 磁性元件特性变化:电感(L)的磁导率(μ)和损耗(P_core)随温度升高而降低。
- 控制环路补偿网络漂移:电阻(R)和电容(C)的温漂导致补偿零极点位置偏移,影响环路稳定性。
通过测量不同温度下电源的阻抗(如输入阻抗、输出阻抗),结合频率响应数据(如波特图),可分析温度对电源性能的影响。
二、所需设备
- 网络分析仪:具备扫频功能(如10Hz~1MHz)和双端口测量能力(S参数测量),例如Keysight E5061B或R&S ZNL。
- 恒温箱:温度范围覆盖电源工作温度(如-40℃~+85℃),温度控制精度±1℃。
- 温度传感器:高精度热电偶或PT100传感器,实时监测电源内部温度。
- 注入变压器:将网络分析仪的输出信号隔离注入电源控制环路(如误差放大器输入端)。
- 隔离探头:测量电源输出电压或电流,避免地环路干扰。
- 测试夹具与校准件:如SMA接口、短路-开路-负载校准套件。
三、测试步骤
1. 校准网络分析仪
- 使用短路(Short)、开路(Open)、负载(Load)校准件,依次连接至网络分析仪的测试端口。
- 执行全双端口校准(SOLT),消除测试线缆和夹具的损耗及相位误差。
2. 设置测试参数
- 频率范围:根据电源开关频率(f_sw)设置,例如10Hz~1MHz(f_sw=100kHz时)。
- 输出功率:设置低幅值信号(如-20dBm,约100mVpp),避免电源进入非线性区。
- 中频带宽(IF BW):设置为1kHz,平衡测量速度与噪声抑制。
- 注入方式:
- 控制环路注入法:将网络分析仪的输出信号通过注入变压器连接至电源误差放大器的反馈节点(如V_FB),测量环路增益(T(s))。
- 输入扰动法:在电源输入端串联信号源,测量输出电压对输入扰动的响应(适用于开环测试)。
3. 温度控制与数据采集
- 温度点选择:覆盖电源工作温度范围,例如-40℃、-20℃、0℃、25℃、60℃、85℃。
- 温度稳定:设置恒温箱以5℃/min的速率升温/降温,避免热冲击。待恒温箱达到目标温度并稳定10分钟后,启动网络分析仪扫频测试。
- 数据记录:保存每个温度点下的波特图数据(增益∣T(jω)∣和相位∠T(jω)),重复测试3次取平均值,减少随机误差。
4. 数据分析
- 关键指标提取:
- 环路带宽(f_c):增益下降至0dB时的频率。
- 相位裕度(PM):相位达到-180°时的增益裕度。
- 增益裕度(GM):增益为0dB时的相位与-180°的差值。
- 温度依赖性分析:
- 观察环路带宽、相位裕度、增益裕度随温度的变化趋势。
- 例如,高温可能导致环路带宽降低、相位裕度减小,电源稳定性变差。
四、关键注意事项
- 温度均匀性:确保电源在恒温箱内均匀受热,避免局部过热或过冷。可通过导热硅脂垫片或强制风冷恒温箱改善。
- 信号注入安全:注入变压器需具备高隔离电压(如1kVrms),避免电源高压侧与控制侧短路。
- 测量安全:隔离探头需选择高压差分探头(如1000V CAT III),确保测量安全。
- 测试条件一致性:电源需处于闭环控制状态(如恒压模式),且负载电流稳定(如50%额定负载),避免轻载或空载下测试。
- 数据同步:使用网络分析仪的标记功能记录关键频率点的增益和相位值,并将温度数据与波特图数据同步保存。
五、结果应用
- 设计优化:根据测试结果,优化控制环路补偿网络(如增大高温下的积分时间常数),或选用温漂更小的元件(如负温度系数(NTC)电阻)。
- 稳定性评估:通过分析温度对环路带宽、相位裕度的影响,评估电源在不同温度下的稳定性,为实际应用提供依据。